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        德國ElektroPhysik（簡(jiǎn)稱EPK）公司*新推出的QuintSonic 7超聲波涂層測(cè)厚也叫分層膜厚儀，利用超聲波反射原理可以無損測(cè)量多層涂層厚度的儀器，不同于其他磁性測(cè)厚儀和電渦流測(cè)厚儀，該款儀器不僅可以測(cè)量金屬基材上的涂層厚度，也可以測(cè)量非金屬基材上的多層膜厚。

 

        基于超聲波反射原理，內(nèi)置智能傳感器的QuintSonic 7探頭作為發(fā)射器和接收器，同時(shí)對(duì)被測(cè)位置發(fā)射超聲波脈沖。當(dāng)超聲波束穿過兩層之間的邊界或到達(dá)基底時(shí)，部分超聲能量被反射，通過獲取反射波確定層厚。

        超聲波涂層厚度測(cè)量的另一個(gè)挑戰(zhàn)是顯示出非常相似材料特性的分層。為了提供清晰的回波信號(hào)，它們的阻抗值變化不大。QuintSonic 7的創(chuàng)新剪裁功能“全局剪裁”、“可變剪裁”和“分區(qū)剪裁”為這一問題提供了一種解決方案，從而也可以清晰地分辨出非常微弱的回聲。因此，即使是非常困難的任務(wù)設(shè)置，也能以*大的可靠性和精確性來解決。

      

        上圖為多層薄膜厚度的測(cè)試案例，通過QuintSonic 7 超聲波涂層測(cè)厚儀能夠準(zhǔn)確測(cè)出薄膜涂層及基材的各層厚度和總厚度，通過觀察聲波曲線確定分層（回波）明顯，儀器可單獨(dú)設(shè)定每種樣品的聲速參數(shù)。

 

測(cè)量結(jié)果：

第一層	第二層	總厚
8.9 μm	84.9 μm	93.8 μm

       

        薄膜基材84.9μm，基材上涂有8.9μm的涂層已達(dá)到防靜電防水的效果，使用這款測(cè)厚儀可輕松測(cè)量多層薄膜厚度，圖中容易看出各層的超聲波反射及回波情況，定義好聲速及波形，將此參數(shù)輸入主機(jī)中，可實(shí)現(xiàn)主機(jī)直接測(cè)量并自動(dòng)計(jì)算并存儲(chǔ)每個(gè)涂層的厚度數(shù)據(jù)，無需連接電腦使用，主機(jī)和探頭總重量不到500g，操作簡(jiǎn)便。測(cè)量后可將數(shù)據(jù)導(dǎo)入電腦可自動(dòng)生成統(tǒng)計(jì)報(bào)告，統(tǒng)計(jì)報(bào)告中保護(hù)各種測(cè)量數(shù)據(jù)和統(tǒng)計(jì)數(shù)據(jù)。

        與此同時(shí)，QuintSonic 7在汽車工業(yè)、飛機(jī)制造或其他任何對(duì)涂裝精度要求很高的產(chǎn)業(yè)都有著廣泛的應(yīng)用。