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    進(jìn)口膜厚儀又名膜厚測(cè)試儀，分為手持式和臺(tái)式二種，手持式又有磁感應(yīng)鍍層測(cè)厚儀，電渦流鍍層測(cè)厚儀，熒光X射線儀鍍層測(cè)厚儀。手持式的磁感應(yīng)原理時(shí)，利用從測(cè)頭經(jīng)過非鐵磁覆層而流入鐵磁基體的磁通的大小，來測(cè)定覆層厚度。也可以測(cè)定與之對(duì)應(yīng)的磁阻的大小，來表示其覆層厚度。

    進(jìn)口膜厚儀操作簡(jiǎn)單四個(gè)按鍵一目了然，無需培訓(xùn)即可使用。內(nèi)置統(tǒng)計(jì)功能：讀數(shù)個(gè)數(shù)，大小值，平均值，標(biāo)準(zhǔn)偏差。每次讀值均有聲音提示。一節(jié)標(biāo)準(zhǔn)AA電池，電量過低時(shí)，顯示BAT，不會(huì)因電量不足造成讀值誤差兩用型內(nèi)置探頭無需選擇測(cè)量模式，把探頭放到被測(cè)表面儀器會(huì)根據(jù)基體材質(zhì)自動(dòng)選擇測(cè)量模式：磁性或者渦流原理。

    進(jìn)口膜厚儀出現(xiàn)測(cè)量不準(zhǔn)該如何處理：

    ①請(qǐng)先行系統(tǒng)校準(zhǔn)儀器，標(biāo)定，使之符合誤差范圍誤差遵循≦3%(厚度值）±1um如需測(cè)試更加精準(zhǔn)請(qǐng)?jiān)诒粶y(cè)工件的光滑裸基（而不是隨機(jī)帶的的鐵塊）進(jìn)行系統(tǒng)校準(zhǔn)。

    ②請(qǐng)檢查探頭前端是否磨損，是否變形，有附著物質(zhì)等探頭外護(hù)套是否不在水平等,變形可適當(dāng)用砂紙打磨修正，處理干凈。

    ③被測(cè)件基材表面粗糙度影響，引起系統(tǒng)誤差和偶然誤差測(cè)量時(shí)在不同位置增加測(cè)量次數(shù)，克服偶然誤差?；蛴蒙凹埓蚰セ闹匦滦?duì)儀器零點(diǎn)。

    ④測(cè)量手法以及探頭的放置需保持探頭與試樣垂直。

    ⑤被測(cè)件曲度在該探頭所適應(yīng)的曲率半徑下，重新校準(zhǔn)。尤其管道凸面，注意探頭V型卡槽穩(wěn)定放置。